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JYC3100综合IV性能测试仪,内部包含高性能的进口数字源表、线性直流电源和探针台等组成。可以针对各种形式材料器件,如:封装的、晶圆片、有无电极的材料等形式;可用于测试半导体材料:铁电、压电、晶体等材料和MOS器件、BJT器件、光电器件、传感器、太阳能电池、忆阻器等,是一款真正的用途广泛、功能强大、性价比很高的测试仪器。
综合IV性能测试仪
数字源表的价格,器件分析仪的性能!
请问你还在购买源表吗?买来不会用、不会接线、没有程控自动化软件、即便是有软件,没有办法满足自己的要求,等等问题一直困扰着老师和同学。现在好了,我公司最新推出的JYC3100综合IV性能测试仪,可以解决你的问题,让你只需专注予你的科研,而无需了解仪器设备,轻轻一点,你需要的数据就很快会呈现,实时曲线、实时数据、自动保存完好的数据文件,还有专业的工程师技术支持,等等一切的一切会让你轻松的完成你需要的实验工作。
仪器简介
JYC3100综合IV性能测试仪,内部包含高性能的进口数字源表、线性直流电源和探针台等组成。可以针对各种形式材料器件,如:封装的、晶圆片、有无电极的材料等形式;可用于测试半导体材料:铁电、压电、晶体等材料和MOS器件、BJT器件、光电器件、传感器、太阳能电池、忆阻器等,是一款真正的用途广泛、功能强大、性价比很高的测试仪器。
主要性能指标
1、SMU模块
l 高达 200 V/1 A
l 2档量程范围: 20V 1A;200V 100mA
l 电源电压:最小量程 ±20mV,最小分辨率 500nV
l 电源电流:最小量程 ±10nA,最小分辨率 500fA
l 测量电压:最小量程±20mV,最小分辨率:10nV
l 测量电流:最小量程±10nA,最小分辨率:10fA
2、电源模块:60V/2A,分辨率为10mv/1mA
主要功能特点
1、全中文图形化的用户界面,功能设置灵活方便,参数设置提供多种选择。
2、实时显示图形曲线,并自动存储测试数据。
3、主要软件功能:
l 基本测试:经典扫描、列表扫描、时间采样、四线低电阻测试等
l 二极管:正向导通测试、反向击穿测试等。
l MOS管:输出特性、转移特性,正向导通电阻、反向击穿电压等。
l 应用测试:、忆阻器测试、太阳能电池测试、四探针电阻率测试
标准配件与选件
1)标准配件:低噪声测试屏蔽盒适合四端口封装器件测试,并且可以更换多种封装。
2)选件:
四探针夹具
探针台:
标准配置:探针台体、体视显微镜、三轴管状探针夹具、探针座和
探针等。
选件配置:CCD采集卡、屏蔽箱和光源输出光纤支架