JYC-3200 综合CV性能测试仪
    发布时间: 2021-10-01 00:00    

JYC3200综合CV性能测试仪,内部包含高性能的进口精密LCR表、线性直流电源和探针台等组成。可以针对各种形式材料器件,如:封装的、晶圆片、有无电极的材料等形式;可用于测试半导体材料:铁电、压电、晶体等材料和MOS器件、BJT器件、光电器件、传感器、等的阻抗特性,是一款真正的用途广泛、功能强大、性价比很高的测试仪器。


JYC-3200 综合CV性能测试仪

1)重要特点

1、全中文图形化的用户界面,功能设置灵活方便,参数设置提供多种选择。

2、实时显示图形曲线,自动存储测试数据;是性价比高的、人人可以拥有的实用仪器!

3、主要软件功能:

   可以进行C-F扫频测试,C-t时间采样测试,以及C-V特性测试。

 

2)主要性能指标

1CMU模块1

l  频率范围为 1KHz 至 1MHz,最小分辨率: 0.01Hz(1KHz以下)  

l  测试信号电平范围:0 Vrms - 1 Vrms

l  提供 ±40 V直流偏置

2、电源模块:60V/2A,分辨率为10mv/1mA